Kính hiển vi 3D W3

 Kính hiển vi 3D W3 Máy đo bề mặt quang học 3D SuperView W3 có thể được sử dụng rộng rãi trong sản xuất chất bán dẫn và phát hiện quy trình đóng gói, màn hình kính điện tử 3C và các phụ kiện chính xác của chúng, xử lý quang học, vật liệu và sản xuất micro-nano, phụ tùng ô tô, thiết bị MEMS và các ngành công nghiệp gia công siêu chính xác khác và hàng không vũ trụ, quốc phòng và công nghiệp quân sự, viện nghiên cứu đại học và các lĩnh vực khác. Nó có thể đo độ nhám, độ phẳng, cấu hình vi mô, độ cong, v.v. của nhiều loại bề mặt vật thể từ siêu mịn đến thô, độ phản xạ thấp đến độ phản xạ cao và phôi từ cấp độ nanomet đến micromet, và cung cấp hơn 300 tham số 2D và 3D làm tiêu chí đánh giá dựa trên bốn tiêu chuẩn trong nước và quốc tế chính của ISO/ASME/EUR/GBT.

– . Chức năng sản phẩm

1) Khả năng đo mẫu: Đáp ứng phép đo của tất cả các loại bề mặt mẫu từ siêu mịn đến thô, từ gương đến vật liệu trong suốt hoàn toàn hoặc đen;

2) Chức năng đo tự động: chức năng đo diện tích đơn tự động, chức năng đo nhiều diện tích tự động, chức năng đo ghép tự động;

3) Chức năng xử lý dữ liệu: Cung cấp các chức năng xử lý dữ liệu của bốn mô-đun: điều chỉnh vị trí, khử nhiễu, lọc và trích xuất;

4) Chức năng phân tích lô: có thể tùy chỉnh các mẫu xử lý và phân tích dữ liệu theo các tham số cần thiết và có thể thực hiện phân tích lô chỉ bằng một cú nhấp chuột cho cùng một loại tham số;